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简介
本书以晶体衍射结构表征为主线，介绍了X射线衍射、背散电子衍射和透射电子衍射的共性问题。书中运用倒易点阵数学，详细推导了晶体学结构公式和单晶标准透射电子衍射斑点图；运用纯数学推导和补充了背散电子衍射检测中的核心晶体学公式，即晶体取向与欧拉空间的关系式，关系式包括了立方晶系、四方晶系、正交晶系和六方晶系等，扩展了TD方向的关系式；建立了一套立方晶系和六方晶系与任意织构对应的标准极图的绘制方法，给出面心立方和体心立方的常见织构的标准极图，也给出钛、锆、镁和锌的部分织构的标准极图，利用织构信息提出了材料的取向因子和启动滑移系数目的计算方法；介绍了一种未知新物相利用X射线衍射数据手工计算晶体结构的方法和董成教授编程的晶体指标化软件分析法，fullpro软件晶体结构精修方法；介绍了晶体衍射检测的应用特例。
